一👨‍👩‍👧‍👧、基礎信息

個人簡介💘：張思全，男，漢族，1971年9月生🤼‍♀️，中共黨員👨🏼‍⚕️，博士研究生學歷，副教授。主要從事現代檢測技術與智能傳感教學研究工作🍙，曾主持國家自然科學基金課題🍍，發表多篇相關學術論文。

（一）個人基礎信息

性別🙍🏼‍♂️：男

出生年月𓀄：1971年9月

職務🕺🏼：副教授

博碩導🤖：碩士生導師

電子郵箱：sqzhang@shmtu.edu.cn

（二）教育經歷

2008年6月於華南理工大學材料加工工程專業，取得博士學位；

2004年6月於廣東工業大學控製理論與控製工程專業🤌🏻，取得碩士學位；

1994年6月於蘭州大學電子學與信息系統專業，取得本科學位。

（四）國際交流與合作經歷

2014.9至2015.10前往美國阿克隆大學(The University of Akron)，任訪問學者🚟。

二、科學研究

（一）研究領域及科研團隊

研究領域♟：控製科學與工程/檢測技術與自動化裝置，儀器科學與技術/測試計量技術及儀器🙍‍♂️，基於電磁、超聲等的材料無損檢測與評價技術，智能檢測💘、智能感知與智能儀器技術。

（二）科研項目

電磁陣列旋轉掃描定量檢測復雜導電結構多裂紋的理論研究，國家自然科學基金面上項目（51175321）🦸🏽‍♂️，2012-2015，主持。

（三）代表性論文成果

[1] Siquan Zhang. Investigation of Flux Transfer along Ferrite Core of Probe Coil for Eddy Current Nondestructive Evaluation[J]. MEASUREMENT SCIENCE REVIEW, 2023, 23(1): 11-18.

[2] Siquan Zhang, Chenkai Ye. Model of Ferrite-cored Driver-pickup Coil Probe Application of TREE Method for Eddy Current Nondestructive Evaluation [J]. ACES JOURNAL, 2022, 37(5):632-638.

[3] Siquan Zhang. Analytical model of a T-core coil above a multi-layer conductor with hidden hole using the TREE method for nondestructive evaluation [J]. COMPEL-The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 2021, 40(6):1104-1117.

[4] Siquan Zhang. Analytical Model of an I-core Coil for Nondestructive Evaluation of a Conducting Cylinder below an Infinite Plane Conductor [J]. MEASUREMENT SCIENCE REVIEW, 2021, 21(4):99-105.

[5] Siquan Zhang. An Analytical Model of a New T-cored Coil Used for Eddy Current Nondestructive Evaluation [J]. ACES JOURNAL, 2020, 35(9):1099-1104.

[6] 張思全. 磁芯位置對渦電流探頭阻抗變化影響的解析分析[J].傳感技術學報, 2020, 33(6):791-795.

[7] Siquan Zhang, Nathan Ida. CALCULATION MODEL FOR THE INDUCED VOLTAGE IN RECTANGULAR COILS ABOVE CONDUCTIVE PLATES [J]. FACTA UNIVERSITATIS Series: Electronics and Energetics, 2017, 30(1):27-38.

（四）代表性專利成果

[1]2018年5月29日👩‍🔧，一種檢測導電結構缺陷的柔性陣列渦流探頭及檢測方法。專利號201510258489.7🧑‍🦼，獲國家發明專利（第一發明人）

[2]2017年11月7日，一種用於金屬結構微小空間內的缺陷無損檢測裝置。專利號201510231277.X，獲國家發明專利（第一發明人）

[3]2017年6月16日，一種金屬管道內表面缺陷的渦流檢測🧍‍♂️。專利號201210538859.9，獲國家發明專利（第一發明人）

[4]2016年1月13日，一種旋轉磁場渦流檢測探頭。專利號201310447635.1，獲國家發明專利（第一發明人）

[5]2015年12月2日，檢測復雜導電結構表面缺陷的渦流陣列探頭及系統。專利號201310446770.4🍍，獲國家發明專利（第一發明人）

三、教學信息

（一）授課信息

主講本科生課程：檢測技術與傳感器， 測控系統與電路👩🏿， 應用光學等。